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一些有高可靠性要求的数据采集器也开始采用BIT技术
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文章类型：行业新闻
文章加入时间：2008年6月30日14:14
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实践表明，采用机内测试BIT(Build-In-Test)技术能较大程度提高设备的可靠性和可维修性。
目前，一些有高可靠性要求的数据采集器也开始采用BIT技术。由于数据采集器中包含大量模拟电路和数字电路，使得在这类设备上采用BIT技术具有一定的难度。以边界扫描BS(Boundary-Scan)为主的BIT设计技术在数字电路的检测方面已经非常成熟，但其模拟电路的测试还不是很完善，因为模拟电路故障诊断存在以下一些难题：
(1) 模拟电路参数种类众多，而且元件参数存在容差，使得许多诊断方法失去了准确性和稳定性。
(2) 模拟电路的多样性以及电参数模拟困难造成模拟的模型适应性有限。
(3) 为保证模拟电路的精度，通常只有少量可及端口和节点可以测量，故障诊断的信息量不够，造成故障定位的不确定性和模糊性。
(4) 模拟电路故障种类众多，原因复杂，易出现新类型未记录的故障。
数据采集器的模拟电路在检测过程中除了需要考虑上述的因素外，还要关注其放大器的增益精度、输入噪声水平、零点飘移、共模抑制比、建起时间、频率响应等采集器的性能参数。
2 数据采集器模拟部分自检测原理
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文章出处：动态网站制作指南
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文章作者：SAYYES
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