（6、金属表面氧化物或油漆覆盖层的影响。金属表面产生的致密氧化物或油漆防腐层，虽与基体材料结合紧密，无名显界面，但声速在两种物质中的传播速度是不同的，从而造成误差，且随覆盖物厚度不同，误差大小也不同。

（7、当材料内部存在缺陷（如夹杂、夹层等）时，显示值约为公称厚度的70%（此时要用超声波探伤仪进一步进行缺陷检测）。

（8、应力的影响。在役设备、管道大部分有应力存在，固体材料的应力状况对声速有一定的影响，当应力方向与传播方向一致时，若应力为压应力，则应力作用使工件弹性增加，声速加快；反之，若应力为拉应力，则声速减慢。当应力与波的传播方向不一至时，波动过程中质点振动轨迹受应力干扰，波的传播方向产生偏离。根据资料表明，一般应力增加，声速缓慢增加。

TT210涂层测厚仪的校准方法
为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
TT210涂层测厚仪校准标准片（包括箔和基体）
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
a) 校准箔
对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。对于涡流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。

b) 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于磁性方法，覆盖层是非磁性的。对于涡流方法，覆盖层是非导电的。
TT210涂层测厚仪基体
a) 对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与待测试件基体金属的电性质相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。
b) 如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：
1) 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准；
2) 用一足够厚度的，电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
c) 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。
TT210涂层测厚仪校准方法
TT210涂层测厚仪有三种测量中使用的校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。二点校准法又分一
试片法和二试片法。还有一种针对测头的基本校准。本仪器的校准方法是非常简单的。
TT210涂层测厚仪零点校准
在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×μm＞。
a) 按ZERO 键，屏显<0.0>。校准已完成，可以开始测量了。
b) 重复上述a、b 步骤可获得更为精确的零点，高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
TT210涂层测厚仪二点校准
3.3.2.1 一试片法这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。
a) 先校零点（如上述）。
b) 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×××μm＞。
c) 用“↓”或“↑”键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量了。
注意:1.即使显示结果与标准片值相符，按↑、↓键也是必不可少的，例如按一次↑一次↓。这一点适用于所有校准方法。
2. 如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c 过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。
TT210涂层测厚仪二试片法
两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。
a) 先校零值;
b) 在较薄的标准片上进行一次测量，用“↓”或“↑”键修正读数，使其达到标准值;
c) 紧接着在厚的一个样片上进行一次测量，用“↓”或“↑”键修正读数，使其达到标准
值。校准已完成，可以开始测量了。
TT210涂层测厚仪在喷沙表面上校准
喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定。
TT210涂层测厚仪方法一：
a) 仪器要用3.3.1 或3.3.2.1 的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。
b) 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10 次左右，得到平均值Mo。
c) 然后，在已涂覆的表面上测量10 次得到平均值Mm。
d) （Mm—Mo）±S 即是覆盖层厚度。其中S（标准偏差）是SMm 和SMo 中较大的一个。